Спеціальність: 152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка (Якість, стандартизація та сертифікація). ОС: Магістр. Семестр: 2. ECTS: 4.
Розподіл годин: Лекції - 15; Лабораторні - 15; Самостійна робота - 90. Підсумковий контроль: Екзамен.
Анотація: У курсі розглядаються концептуальні положення теорії інноваційного розвитку, методологічні і теоретико-методичні основи організації та управління інноваційним процесом на підприємстві чи в установі, методичні засади управління інтелектуальною власністю як основою інноваційного розвитку, основи патентознавства, організація науково-дослідної роботи та її етапи, складові теоретичних і експериментальних досліджень, оформлення наукових результатів, основи наукової етики.
Силабус (Тут потрібно надати посилання на Силабус, розміщений на сторінці кафедри).
- Викладач: Толок Галина Арсенівна
- Асистент: Антонів Артем Дмитрович
- Асистент: Розбицька Тетяна Вікторівна