Опції зарахування

Спеціальність: 175 Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка (Якість, стандартизація та сертифікація). ОС: Магістр. Семестр: 1. ЄКТС: 6.
Розподіл годин: Лекції - 30. Практичні - 30. Самостійна робота - 120. Підсумковий контроль: Екзамен.
Анотація: В курсі викладено основи архітектури, програмного та апаратного забезпечення комп'ютеризованих інформаційно-вимірювальних систем, наведено їх класифікацію та технічні характеристики. Розглянуто основні складові частини інформаційно-вимірювальних систем: сучасні контролери, аналого-цифрові перетворювачі, інтерфейси, локальні мережі, засоби відображення інформації. Розглянуто основні принципи математичного моделювання процесу вимірювання, метрологічного забезпечення та принципи побудови на їх базі інформаційно-вимірювальних систем, а також засобів їх розробки.
Покликання на силабус Робоча програма

Рік останньої атестації: 2008
Автори курсу: Касаткін Дмитро Юрійович; Тарасенко Ростислав Олександрович
dm_kasat
dm_kasat
Доступність

Шрифти Шрифти

Розмір шрифта Розмір шрифта

1

Колір тексту Колір тексту

Колір тла Колір тла

Кернінг шрифтів Кернінг шрифтів

Видимість картинок Видимість картинок

Інтервал між літерами Інтервал між літерами

0

Висота рядка Висота рядка

1.2

Виділити посилання Виділити посилання

Вирівнювання тексту Вирівнювання тексту

Ширина абзацу Ширина абзацу

0